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Measurement of in-plane strain with shearography and electronic speckle pattern interferometry for composite materials
Indexado
WoS WOS:000393497300044
Scopus SCOPUS_ID:84988302617
DOI 10.1109/ISOT.2014.52
Año 2014
Tipo proceedings paper

Citas Totales

Autores Afiliación Chile

Instituciones Chile

% Participación
Internacional

Autores
Afiliación Extranjera

Instituciones
Extranjeras


Abstract



Experimental results obtained by applying both technique, Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI) and Electronic Speckle Pattern Shearing Interferometry (ESPSI) were compared in the study of composite materials. We found that the difference between the strain fields obtained by ESPSI and ESPI was roughly a constant. This result was expected since, although ESPI in turn allows computing absolute strain values, the strains measured by ESPSI are relative to a reference that must be measured by an additional method.

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Colaboración Institucional



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Autores - Afiliación



Ord. Autor Género Institución - País
1 Martinez-Garcia, Arnalia Mujer Ctr Invest Opt - México
Centro de Investigaciones en 'ptica Le'n - México
2 Rayas, Juan A. Hombre Ctr Invest Opt - México
Centro de Investigaciones en 'ptica Le'n - México
3 CORDERO-CARRASCO, RAUL RODRIGO Hombre Universidad de Santiago de Chile - Chile
4 IEEE Corporación

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Financiamiento



Fuente
Consejo Nacional de Ciencia y Tecnologia (CONACyT-Mexico)
Consejo Nacional de Ciencia y Tecnologia (CONACYT_Mexico)

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Agradecimientos



Agradecimiento
Authors wish to thank economical support from Consejo Nacional de Ciencia y Tecnologia (CONACYT_Mexico).

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