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Effect of Failure Rates Uncertainty on Distribution Systems Reliability
Indexado
WoS WOS:000679246600075
Scopus SCOPUS_ID:85099146205
DOI 10.1109/PESGM41954.2020.9281459
Año 2020
Tipo proceedings paper

Citas Totales

Autores Afiliación Chile

Instituciones Chile

% Participación
Internacional

Autores
Afiliación Extranjera

Instituciones
Extranjeras


Abstract



Most interruptions of electricity supply to final customers occur due to failures in the distribution grid. Thus, estimating its reliability is very important for planning future infrastructure upgrades. However, the estimation of reliability indexes such as SAIDI and SAIFI is highly dependent on the failure rates of different components, which are usually obtained using historical data. Despite being highly uncertain, most planning models treat failure rates as deterministic. This case study explores how failure rates uncertainty can impact the estimation of reliability in distribution systems using a model for the optimal allocation of protective devices (fuses and reclosers) and capable of estimating costs and different reliability metrics. Computational experiments on the IEEE 33-bus test system show that ignoring failure rate uncertainty can severely undermine the estimation of SAIFI and SAIDI, leading to sub-optimal decisions that do not meet minimum reliability requirements.

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Disciplinas de Investigación



WOS
Sin Disciplinas
Scopus
Sin Disciplinas
SciELO
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Publicaciones WoS (Ediciones: ISSHP, ISTP, AHCI, SSCI, SCI), Scopus, SciELO Chile.

Colaboración Institucional



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Autores - Afiliación



Ord. Autor Género Institución - País
1 de la Barra, Joaquin - Universidad Técnica Federico Santa María - Chile
2 GIL-SAGAS, ESTEBAN MANUEL Hombre Universidad Técnica Federico Santa María - Chile
3 Angulo, Alejandro Hombre Universidad Técnica Federico Santa María - Chile
4 Navarro-Espinosa, Alejandro Hombre Universidad de Chile - Chile
5 IEEE Corporación

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Financiamiento



Fuente
FONDECYT
Fondo Nacional de Desarrollo Científico y Tecnológico
AC3E
Basal (Advanced Center for Electrical and Electronic Engineering, AC3E)

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Agradecimientos



Agradecimiento
This work was supported by projects Fondecyt 11170229 and Basal FB0008 (Advanced Center for Electrical and Electronic Engineering, AC3E). Partial support was also provided by project Fondecyt 11180875.
ACKNOWLEDGMENTS This work was supported by projects Fondecyt 11170229 and Basal FB0008 (Advanced Center for Electrical and Electronic Engineering, AC3E). Partial support was also provided by project Fondecyt 11180875.

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