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Colección SciELO Chile

Whole-field thickness measurement of a leaf cuticle by digital holographic tomography (DHT)

Indexado

Scopus

SCOPUS_ID:84919624593

DOI

Año

2014

Tipo

Citas Totales

Autores Afiliación Chile

Instituciones Chile

% Participación
Internacional

Autores
Afiliación Extranjera

Instituciones
Extranjeras

Abstract

DHF allowed us to retrieve whole field maps of the refraction index of cuticles isolated from the abaxial surface of leaves; these were in turn sampled from an apple tree (Malus domestica).

Disciplinas de Investigación

WOS
Sin Disciplinas

Scopus
Sin Disciplinas

SciELO
Sin Disciplinas

Muestra la distribución de disciplinas para esta publicación.

Publicaciones WoS (Ediciones: ISSHP, ISTP, AHCI, SSCI, SCI), Scopus, SciELO Chile.

Colaboración Institucional

Muestra la distribución de colaboración, tanto nacional como extranjera, generada en esta publicación.

Autores - Afiliación

Ord.	Autor	Género	Institución - País
1	Labbe, Fernado	-	Universidad Técnica Federico Santa María - Chile
2	León-Rodríguez, Miguel	Hombre	Centro de Investigaciones en Optica, A.C. - México
3	Martinez, Amalia	Mujer	Centro de Investigaciones en Optica, A.C. - México
4	Rayas, Juan A.	Hombre	Centro de Investigaciones en Optica, A.C. - México Universidad de Santiago de Chile - Chile
5	Cordero, Raúl R.	Hombre	Universidad de Santiago de Chile - Chile

Muestra la afiliación y género (detectado) para los co-autores de la publicación.

Financiamiento

Fuente
Sin Información

Muestra la fuente de financiamiento declarada en la publicación.

Agradecimientos

Agradecimiento
Sin Información