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Colección SciELO Chile

Two-wavelength electronic speckle pattern interferometry for simultaneous measurement of two in-plane displacement fields

Indexado

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SCOPUS_ID:84931340249

DOI

Año

2014

Tipo

Citas Totales

Autores Afiliación Chile

Instituciones Chile

% Participación
Internacional

Autores
Afiliación Extranjera

Instituciones
Extranjeras

Abstract

We present the simultaneous measurement of bidimensional displacements by electronic speckle pattern interferometry by using of two dual illumination systems mutually perpendicular and with two different colors for each one them. © OSA 2014.

Disciplinas de Investigación

WOS
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Scopus
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SciELO
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Publicaciones WoS (Ediciones: ISSHP, ISTP, AHCI, SSCI, SCI), Scopus, SciELO Chile.

Colaboración Institucional

Muestra la distribución de colaboración, tanto nacional como extranjera, generada en esta publicación.

Autores - Afiliación

Ord.	Autor	Género	Institución - País
1	Martínez-García, Amalia	Mujer	Centro de Investigaciones en Optica, A.C. - México
2	Cordero, Raúl	Hombre	Universidad de Santiago de Chile - Chile
3	Rayas, J. A.	-	Centro de Investigaciones en Optica, A.C. - México Universidad de Santiago de Chile - Chile

Muestra la afiliación y género (detectado) para los co-autores de la publicación.

Financiamiento

Fuente
Sin Información

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Agradecimientos

Agradecimiento
Sin Información